熒光X線光譜儀特點：
◆ 快速：每次測試時間僅需60－200秒，快速方便；
◆ 無損：檢測前無須對樣品處理；
◆ 準確：檢出限可達1ppm（百萬分之一）；
◆ 直觀：軟件操作界面非常簡單、直觀、易懂。

熒光X線光譜儀特性：
◆ 測量RoHS、電鍍鍍層、全元素分析、一機多用；
◆ 半導體硅片電制冷系統(tǒng)，擯棄液氮制冷；
◆ 特別開發(fā)的RoHS測量軟件，操作界面十分友好；
◆ 可選的準直器系列，分別針對不同大小的樣品；
◆ 超大樣品腔，幾乎對樣品尺寸無限制；
◆ 精準的移動平臺，更精確方便地調(diào)節(jié)樣品位置；
◆ 內(nèi)置高清晰攝像頭，方便用戶隨時監(jiān)測樣品；
◆ *的光路增強系統(tǒng)，方便用戶更好地觀察樣品；
熒光X線光譜儀檢測分析譜圖式樣： (點擊放大查看)

熒光X線光譜儀綜合性能指標:

一．基本性能:
1.元素分析范圍從鉀(K)到鈾(U)；
2.元素含量分析范圍為1 PPm到99.99%；
3.測量時間：60-200秒；
4.元素分析檢出限達1PPm；
5.多次測量重復(fù)性可達0.1％；
6.長期工作穩(wěn)定性為0.1％；
7.能量分辨率為165EV；
8.溫度適應(yīng)范圍為15℃至26℃；
9.電源：交流220V±5V；（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。）
10.相互獨立的基體效應(yīng)校正模型；
11.多變量非線性回收程序；
12.任意多個可選擇的分析和識別模型；
13.一次可同時分析24個元素。

二．鍍層厚度測試:
1.無損、精確、快速測量各種電鍍層的厚度；
2.膜厚分析精度:0.01um—0.05um；
3.極小的測定面積,可達0.1mm＊0.1mm；
4.中間鍍膜及素材的成份對測量值不產(chǎn)生影響；
5.同時且互不干擾的測量上層及中間鍍膜；
6.電鍍層可以是鍍金、鍍銀、鍍鎳、鍍錫、鍍鋅等；
7.可測量二元合金、三元合金等的鍍膜厚及成份；
8.可分析10層以上的鍍層；
9.簡捷、明了的測厚分析軟件界面；
10.可分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度。

三．歐盟ROHS指令測試:
1.無損、精確、快速測量各種塑料、電子元器件、電器、金屬、溶液等物件里面的有毒有害元素；
2.對鎘（Cd）、鉛（Pb）、鉻（Cr）、溴（Br）、汞（Hg）的檢出限達1PPm；
3.簡捷、明了、便利的軟件操作界面。

四．熒光X線光譜儀元素含量分析:
1.無損、精確、快速測量各種樣品中各元素的含量；
2.一次可同時分析樣品中的24個元素；
3.應(yīng)用在化學工業(yè)、鋼鐵、水泥、陶瓷、電子、環(huán)保、食品、造紙、石油、煤炭、有色金屬等領(lǐng)域的研發(fā)和品質(zhì)管理(生產(chǎn)控制)；
4.樣品的狀態(tài)可以是固體、液體、粉體。