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              PCT高溫蒸煮試驗儀廠家 老化箱

              更新時間:2025-04-18

              PCT高溫蒸煮試驗儀廠家 老化箱又稱為高壓加速老化試驗箱,適用于國防,航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業、制藥、線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產品之密封性能的檢測,相關之產品作加速壽命試驗,使用于在產品的設計階段,用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節。測試其制品的耐厭性,氣密性。測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體

              艾思荔PCT高溫蒸煮試驗儀雙重過熱保護裝置,當鍋內溫度過高時,機器鳴叫警報并自動切斷加熱電源。采用進口微電腦控制飽和蒸氣溫度、微電腦P.I.D自動演算控制飽和蒸氣溫度。采用指針顯示正負壓表;時間控制器采LED顯示器;自動水位控制器,水位不足時提供警示。試驗過程中水位不足時能自動補充水位之功能,試驗不中斷,確保使用安全。

              PCT高溫蒸煮試驗儀廠家 老化箱特性:

              1、試驗過程自動運轉至完成結束、使用簡便。

              2、雙重過熱保護裝置,當鍋內溫度過高時,機器鳴叫警報并自動切斷加熱電源。

              3、LED數字型溫度控制器可作精確試驗溫度之設定、控制及顯示,PID控制誤差±0.1℃。

              4、LED數字型定時器,當鍋內溫度到達后才開始計時以確保試驗完。

              5、精準的壓力、溫度對照顯示。

              6、運轉時流水器自動排出未飽和蒸汽以達到佳蒸汽質量。

              7、試驗過程中水位不足時能自動補充水位之功能,試驗不中斷,確保使用安全。

              8、鍋內安全裝置,鍋門若未關緊則機器無法啟動。

              9、安全閥,當鍋內壓力超過大工作值自動排氣泄壓。

              10、門蓋保護,ABS材質制成可防止操作人員接觸燙傷。

              11、一體成型硅膠門墊圈,氣密度良好,且使用壽命長。



              PCT高溫蒸煮試驗儀特點

              1、采用進口微電腦控制飽和蒸氣溫度、微電腦P.I.D自動演算控制飽和蒸氣溫度。

              2采用指針顯示正負壓表;時間控制器采LED顯示器;自動水位控制器,水位不足時提供警示。

              3、圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業安全容器標準,可防止試驗中結露滴水設計。

              4圓幅內襯,不銹鋼圓幅型內襯設計,可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品.

              5、精密設計,氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續200h。

              6、自動門禁,圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制,安全門把設計,箱內有大于常壓時測試門會被反壓保護。

              7、內壓力愈大時,箱門會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統擠壓式完不同,可延長PCT壽命。

              8、臨界點LIMIT方式自動安全保護,異常原因與故障指示燈顯示。

              9、安全閥,當鍋內壓力超過大工作值自動排氣泄壓。

              10、一體成型硅膠門墊圈,氣密度良好,且使用壽命長。

              PCT高溫蒸煮試驗儀滿足標準

              1、GB/T10586-1989濕熱試驗室技術條件;

              2、GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗;

              3、MIL-STD810D方法502.2;

              4、GJB150.9-8溫濕試驗;

              5、GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度、高壓組合循環試驗

              PCT高溫蒸煮試驗儀廠家 老化箱儀器用途

                 PCT高溫蒸煮試驗儀又稱為高壓加速老化試驗箱,適用于國防,航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業、制藥、線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產品之密封性能的檢測,相關之產品作加速壽命試驗,使用于在產品的設計階段,用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節。測試其制品的耐厭性,氣密性。測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速老化壽命試驗的目的是提高環境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等),加快試驗過程,縮短產品或系統的壽命試驗時間

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