水煮試驗箱與高溫高濕的原理及標準
水煮試驗箱又名PCT高溫高濕試驗機{}隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT（HAST）現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC（電工委員會）所標準化。注意事項：USPCT現在稱為HAST（高度加速應力試驗）。
PCT高溫高濕試驗機采用了更加好的技術來更加好的控制溫度，更加好的控制，更加準確，更加的精密，在蒸汽溫度方面我們采用的是進口微電腦來控制飽和蒸氣溫度、微電腦P.I.D自動演算控制飽和蒸氣溫度。這是我們優先選擇好的，方便快捷簡單的，在水位控制方面我們選擇的是高壓加速老化試驗箱自動水位控制器，這款控制器有著非常好的功能以及特點，能夠在位不足時會有警示并且在時間控制器使用的是LED顯示器，新式的指針顯示正負壓表
高溫水煮試驗機在設計上我們優先的選擇好的設計，以及材料，高壓加速老化試驗箱中我們使用的符合工業安全標準的圓型內箱，采用了不銹鋼的原型使用內箱結果，這種設計可以在試驗中能夠防止結露滴水。并且選擇有著不銹鋼的圓幅內襯的高壓加速老化試驗箱采用了不銹鋼的的圓型設計，有了該圓幅的設計可*的避免蒸氣潛熱直接沖擊測試品。導致試驗品損壞。并且在水位控制上采用了精密的設計，使得每次試驗加水可以使用200小時，并且氣密性非常好，還有耗水量非常少。
內壓力系統也是進行了大的變動，在內壓力越大的時候高壓加速老化試驗箱箱門呼吁反壓導致其與箱體更加緊密結合,不同于的傳統擠壓式,可延長packing的壽命。并且在高壓加速老化試驗箱非常好的臨界點LIMIT方式自動安全保護,在出現異常原因和故障指示燈都會顯示，能夠好的避免因為異常導致損失，甚至導致今天損壞。
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水煮試驗箱與高溫高濕的原理及標準
更新時間：2013-07-30 點擊次數：5094次
